SJ 1603-1980 硅双基极二极管基极间电阻的测试方法
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来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 硅双基极二极管基极间电阻的测试方法 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
半导体分立器件综合 |
| 发布日期： | |
| 实施日期： | 2002-05-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合
【英文标准名称】:Non-destructivetesting-MeasurementandevaluationoftheX-raytubevoltage-Part3:Spectrometricmethod
【原文标准名称】:无损检测.X射线管电压的测量与评价.第3部分:频谱方法
【标准号】:ISO16526-3-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC135
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Contrast(optical);Definitions;Directvoltage;Highvoltage;Imagequality;Interpretations;Materialstesting;Measurement;Measuringtechniques;Methods;Non-destructive;Non-destructivetesting;Radiationprotection;Radiographs;Spectrometers;Spectrometry;Testing;Valvevoltages;Voltage;Voltagemeasuring;X-rayplants;X-raytubes;X-rays
【摘要】:
【中国标准分类号】:N78
【国际标准分类号】:19_100
【页数】:6P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 航空材料和构件的混响室法 吸声系数测量 |
| 中标分类： |
航空、航天 >>
航空、航天材料与工艺 >>
航空、航天材料基础标准 |
| ICS分类： |
航空器和航天器工程 >>
航空航天制造用材料
|
| 发布日期： | 1995-05-04 |
| 实施日期： | 1995-06-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 8页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 航空 航天 航空 航天材料与工艺 航空 航天材料基础标准 航空器和航天器工程 航空航天制造用材料
